contenu du service
TEM (images en champ clair-, images en champ sombre-hors axe-, images en champ sombre -au centre, images à haute -résolution, images en champ sombre à faisceau faible-- ; STEM (images HAADF, images DF, images BF, spectres énergétiques EDS, images iDPC) ; diffraction (diffraction sélective, diffraction de faisceau convergent-, diffraction de nanofaisceau)
qualité de service
Secteurs liés aux puces- (fabrications de plaquettes, fabricants d'équipements pour semi-conducteurs, sociétés de conception de puces, etc.) ; Secteurs liés aux matériaux-(universités, instituts de recherche et entreprises de R&D sur les matériaux).
Cycle d'essai
Délai de traitement typique : 5 à 7 jours ouvrables.
Contexte des services
Face à l'intensification des blocages technologiques à l'étranger, les entreprises-de haute technologie nationales mettent davantage l'accent sur les capacités indépendantes de R&D en matière de puces, ce qui a alimenté un boom de la production nationale d'équipements semi-conducteurs. Alors que les processus de fabrication de puces continuent de diminuer, le développement de puces et d’équipements semi-conducteurs s’appuie de plus en plus sur des outils d’analyse microscopiques comme la TEM. La microscopie électronique à transmission (TEM) joue un rôle irremplaçable dans la recherche et le développement de matériaux. Il fournit des informations structurelles microscopiques critiques-y compris les structures cristallines, les défauts, les compositions élémentaires et les concentrations- qui facilitent l'analyse des propriétés et du comportement des matériaux. La technique aussi
facilite les études sur les transitions de phase et les processus de diffusion, offrant des informations précieuses pour la conception et l’optimisation des matériaux.
nos avantages
Guangdian Metrology est spécialisé dans la technologie de test d'analyse TEM, et dispose d'une équipe d'experts-de pointe et d'un équipement d'analyse TEM avancé (Talos F200X G2). Nous fournissons des solutions de tests d’analyse TEM personnalisées adaptées aux besoins de R&D de divers clients. Notre société possède des capacités d'analyse FIB-TEM pour les processus avancés jusqu'à 7 nm et moins.
partage de cas
étiquette à chaud: imagerie et analyse tem, fournisseur de services d'imagerie et d'analyse tem en Chine
