Contenu et portée du service L'équipement de clivage de plaquettes est une technologie clé dans la préparation d'échantillons SEM, adaptée à l'analyse à haute -résolution dans les matériaux, l'électronique, la biologie et d'autres domaines. En fonction des caractéristiques de l'échantillon, le clivage mécanique, la découpe FIB ou le cryo-clivage peuvent être sélectionnés et combinés à l'optimisation de l'imagerie SEM, l'efficacité de la recherche peut être considérablement améliorée.
Méthodes et échantillons courants pour le clivage ponctuel
Clivage mécanique : matériaux fragiles (par exemple, plaquettes de silicium, céramiques, certains cristaux)
Clivage assisté par faisceau d'ions focalisé (FIB) : matériaux mous, structures multicouches, nanomatériaux
Cryo-clivage : échantillons biologiques, polymères, matériaux mous
Processus de service
Exemple d'évaluation :Déterminez les propriétés de l'échantillon (conductivité, dureté, si un traitement cryo-est requis).
Sélection de la méthode de clivage :
- Clivage mécanique (matériaux fragiles)
FIB-SEM Dual-Clivage de points de faisceau (positionnement précis, comme les puces semi-conductrices)
- Cryo-clivage (matériaux biologiques/mous)
Optimisation de l'imagerie SEM : ajustez la tension et le mode du détecteur pour acquérir des images-haute résolution.
Analyse des données : Fournissez des rapports de morphologie, de composition (EDS) ou de reconstruction 3D (si nécessaire).
Contexte des services
Avec le développement de la nanotechnologie et de la fabrication intelligente, la demande du marché pour ce service continuera de croître. De nombreuses entreprises et instituts de recherche sont confrontés à de nombreux défis en matière de R&D ou de contrôle qualité, tels que la nécessité d'observer la structure interne des matériaux (par exemple, les films multicouches, les états de liaison des interfaces), les dommages potentiels aux zones critiques causés par les méthodes traditionnelles de préparation des échantillons (par exemple, le tranchage, le broyage) conduisant à un positionnement imprécis, la difficulté de cliver manuellement des échantillons de petites tailles (par exemple, les puces, les nanomatériaux) et le besoin d'une technologie de clivage cryogénique en raison de la susceptibilité des matériaux biologiques ou mous à la déformation pendant préparation d’échantillons conventionnelle.
Avantages des services
GRGTEST fournit une solution efficace combinant « équipement de clivage de tranches + services d'imagerie SEM », aidant les clients à localiser des zones spécifiques de clivage (par exemple, joints de soudure de puces, interfaces d'électrodes de batterie), réduisant ainsi les dommages aux échantillons et améliorant la fiabilité des données. Associé à l'EDS pour l'analyse des composants (par exemple, corps étrangers, détection de contaminants), il prend en charge la R&D, le contrôle qualité et l'analyse des défaillances.
Positionnement de haute-précision : localise avec précision la zone de clivage à l'aide d'un microscope optique ou d'un système FIB-SEM.
Adaptabilité multi-mode : prend en charge le SEM conventionnel, le SEM à émission de champ (FE-SEM), le SEM cryogénique, etc.
Réponse rapide : fournit des solutions personnalisées pour répondre aux besoins de l'entreprise, raccourcissant ainsi le cycle de R&D.
Prise en charge des données : fournit des images-haute résolution et une analyse par spectroscopie à dispersion d'énergie pour faciliter la publication sur papier ou des rapports de qualité.
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