Test et analyse du cycle d'alimentation du module d'alimentation

GRGTEST simule les fluctuations de température de jonction pendant le fonctionnement de l'appareil en appliquant des actions de chauffage et de commutation du courant de charge. Grâce à un vieillissement accéléré, il identifie les faiblesses inhérentes à l'emballage du dispositif et évalue l'impact des variations des coefficients de dilatation thermique des matériaux d'emballage sur la durée de vie du dispositif. Ce test représente l'évaluation de fiabilité la plus critique pour l'emballage des dispositifs électriques et sert de base à l'établissement de modèles de durée de vie des dispositifs et à la réalisation d'évaluations de longévité.

Modules de dispositifs d'alimentation de qualité automobile-et produits de conception spéciale équivalents basés sur des composants discrets.

• DINENISO/IEC17025 : Exigences générales relatives à la compétence des laboratoires d'essais et d'étalonnage
• Série CEI 60747 : dispositifs à semi-conducteurs, dispositifs discrets
• Série CEI 60749 : Dispositifs à semi-conducteurs ‒ Méthodes d'essais mécaniques et climatiques
• Série DIN EN 60664 : Coordination de l'isolation des équipements dans les systèmes à basse tension-
• Série DIN EN 60069 : tests environnementaux
• JESD22-A119 : 2009 : Durée de stockage à basse température

Les tests de cycle d'alimentation sont classés en cycles d'alimentation de deuxième-niveau (PCsec) et de cycles d'alimentation en minute-(PCmin), en fonction de la durée de chauffage sous différents courants de charge. Comme spécifié dans la norme de test pour le module électronique de puissance AQG324, les composants du package évalués varient en conséquence.

Comme le montre le tableau ci-dessous :

CNAS

Régulièrement 5 à 7 jours ouvrables

Les tests de cycle d'alimentation sont reconnus comme l'expérience la plus critique pour évaluer la fiabilité du boîtier des dispositifs d'alimentation, en particulier compte tenu de l'évolution rapide des dispositifs d'alimentation SiC MOSFET, qui sont devenus un axe de recherche majeur ces dernières années. Contrairement à d'autres tests de fiabilité, bien que le principe des tests de cycle d'alimentation soit simple, ses techniques de test, ses méthodologies et son traitement des données impliquent des approches interdisciplinaires couvrant la physique des semi-conducteurs, l'électromagnétisme, le transfert de chaleur, la mécanique des structures et l'analyse des signaux ; une mauvaise manipulation peut conduire à des conclusions erronées.

• GRGTEST possède une vaste expertise pratique dans le test de modules semi-conducteurs de puissance à base de Si-, de modules SiC et de composants associés. Elle se présente comme l'une des institutions de test tierces les plus complètes et les plus renommées de Chine-dans le domaine SiC, offrant des services de test intégrés-y compris la vérification des paramètres de spécification, l'analyse des produits concurrents, l'évaluation de la fiabilité environnementale, l'évaluation de la durabilité de la durée de vie et l'analyse des défaillances-à de nombreux fabricants de semi-conducteurs.
• Pour les tests de cycle d'alimentation, GRGTEST a déployé plusieurs unités Siemens Power Tester 1 800 A/1 500 A, ainsi que plusieurs modèles à haute fiabilité-fabriqués dans le pays. Ces systèmes prennent en charge diverses configurations de refroidissement-y compris le refroidissement à l'eau-, le refroidissement hybride à l'eau-éthylène glycol et le -refroidissement à l'huile- et répondent aux exigences de températures de fonctionnement allant de 20 degrés à 125 degrés, avec une grande capacité de production disponible.
• Notre expertise technique aide les fabricants à effectuer les tests de certification AQG324 ; Soutenus par des experts expérimentés en science des matériaux et en fiabilité des performances électriques, nous fournissons une analyse complète des défaillances et la conception/mise en œuvre de solutions de validation de fiabilité pour les semi-conducteurs de puissance.

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